Skaitmeninis elektroninių komponentų testeris | ESR matuoklis, kondensatorių testeris, dažnio generatorius

Elektroninių komponentų testeris ESR matuoklis, kondensatorių talpos matuoklis, dažnio generatorius, skaitmeninis

Multifunkcinis tranzistorių testeris automatiškai aptinka NPN ir PNP tranzistorius, FET, diodus, dvigubus diodus, tiristorus, SCR, automatiškai identifikuoja tranzistoriaus kojelių išdėstymą.

Įrenginyje yra integruotas dažnio generatorius, voltmetras ir IR koduotuvas, visi viename ATMEGA328P DIP-28 mikroschemoje. Jame yra spalvotas 160×128 pikselių ekranas su grafiniu atvaizdavimu testuojamų komponentų simbolių.

• Perjungimas sukamuoju jungikliu ir matavimas vienu mygtuku
• Automatinis išsijungimas energijos taupymui
• Maitinimas iš 9V baterijos arba išorinės jungties
• Veikimo srovė ~30mA, budėjimo režime 20nA

Pagrindinės testavimo funkcijos

• Automatinis NPN, PNP, FET, diodų, dvigubų diodų, tiristorių aptikimas ir kojelių identifikavimas
• HFE (bendrojo emiterio srovės padidėjimo faktoriaus) matavimas
• Emiterio-bazės slenkstinės įtampos ir kolektoriaus-emiterio nuotėkio srovės testavimas
• Darlington tranzistorių identifikavimas
• Integruotų apsauginių diodų aptikimas tranzistoruose ir FET
• FET šaltinio ir nuotėkio parametrų testavimas
• Iki 2 varžų vienu metu matavimas, įskaitant reguliuojamas varžas
• Maksimali varžos matavimo raiška: 0,01Ω, iki 50MΩ
• Kondensatorių talpos diapazonas: 25pF – 100mF, raiška 1pF
• ESR (ekvivalentinės serijos varžos) matavimas dideliems kondensatoriams (>90nF)
• Kondensatorių >5000pF įtampos kritimo rodiklių atvaizdavimas Q faktoriui nustatyti
• Iki 2 diodų vienu metu matavimas, rodant poliarumą ir laidumo įtampą
• LED ir Zener diodų simbolių aptikimas ir grafinis atvaizdavimas
• PN jungties atvirkštinės talpos matavimas dioduose ir tranzistoriuose
• Induktyvumo matavimas iki 2100Ω varžų, diapazonas 0,01mH – 20H

Techninės detalės

Pastaba: Prieš testuojant kondensatorius, juos visiškai iškraukite, kad išvengtumėte testerio mikroschemos pažeidimo.